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光譜橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學(xué)常數以及材料微結構的光學(xué)測量設備。由于與樣品非接觸，對樣品沒(méi)有破壞且不需要真空，使得橢偏儀成為一種吸引力的測量設備。
更新時(shí)間：2023-11-19
廠(chǎng)商性質(zhì)：生產(chǎn)廠(chǎng)家
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